LUMiSpoc 纳米颗粒计数器

超高分辨率的单峰、多峰和多颗粒分散体系粒度的分布

优异的颗粒分级

计数效率高（高频数字化、脉冲分析和分级）

宽泛的动态范围（可测量40 nm到8µm的粒径），无需切换范围或改变组件

检测时间短

易于操作

样品量少

嵌入式触屏和基于服务器/浏览器的软件

通过参考粒子进行单点校准

单粒子光散射技术（SPLS）记录通过单个纳米粒子和微米粒子散射到不同方向的光，同时通过非球形横截面的聚焦激光束。

通过在光学流通池中进行流体动力聚焦，将单个粒子排列成一条直线。这样，通过压力差产生了中间的样品流和周围的鞘流。鞘流为样品流创造了一种流体壁，并防止了机械阻塞。样品流的横截面可以动态调整（因数35），而无需改变机械部件。因此，可以容易地将流动条件调整为样品浓度，从而避免浓度峰值的影响。

当单个粒子穿过激光束时，光会在所有方向上散射。通过两个PMT同时记录光的前向和侧向散射，并在放大和数字化后进行实时分析。为每个粒子计算的散射光强度最多可分类为4.2x106通道，并以高分辨率条形图显示，在易于使用的触摸屏上显示计数分布。根据米氏理论，将分类强度转换为粒度分布密度。测量，数据存储和分析由软件平台SEPView®提供支持。

可以同时确定每个确定的尺寸分数的颗粒浓度是一个很大的优势。 SPLS技术使您可以深入了解复杂的纳米和亚微米颗粒系统，从而帮助您设计定制的颗粒和分散体。